ERM-EC680k 低濃度 RoHS標準分析，100克顆粒/瓶
ERM-EC681k 高濃度 RoHS標準分析，100克顆粒/瓶
材料Low-density polyethylene, LDPE, plastic,
材料Low-density polyethylene, LDPE, plastic,
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MD-200 COD測定儀，適用于0-150、0-1500、0-15000 mg/l三種范圍，符合USEPA 410.4、ISO15705標準方法。
高品質(zhì)光學元件，輕便精巧操作簡便，單次歸零OTZ功能。可立即使用的德國原廠專用試劑，取代傳統(tǒng)加熱回流方法，準確度再現(xiàn)性高。
●型號：MD200 COD Vario (德國Tintometer)
●光源：長效型LED光學元件，610、430 nm
●電源：3號電池四個
●范圍：0-150、0-1500、0-15000…
Fischer標準片Ag-Sn/Sn-Pb/Pd-Ni/Ni-P
X射線測厚儀標準校正片，建檔標準片，校正標準片，X射線標準校正，美國Cal膜厚儀標準片Calibration Standard： X射線測厚儀標準片 鍍層標準片膜厚片 測厚儀標準片 其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。 適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。特色：標準片A2LA校正認證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式專用標準片 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業(yè)用于X…
CMI233 涂層測厚儀
CMI233 兩用型涂層測厚儀，可測量：磁性底材上的非磁性涂層厚度，如鋼鐵上的非磁
性涂鍍層，油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等；非磁性底材上的非磁性涂層厚度，如銅、鋁、奧
氏體不銹鋼上的所有絕緣層，陽極氧化膜、油漆、涂料等。
主要用于：涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)的表面涂層。
探針類型 探針形狀 探針型號
最小凸面
半徑mm
最小凹面
半徑mm
測量高度
mm
最小測
量區(qū)域
mm
最小識
別直角
mm
底材最
小厚度
mm
筆直 ECP
11.2
(0.5")
11.2
(0.44")
102
(4.0")
電渦流
直角 REP-3
9.2
(0.36") 14.6
(0.575")
筆直 SMP-2
1.6
（0.06"…
CMI 700專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計。
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CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準確和精確的測量。CMI 700臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。
同時CMI 760具有先進的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
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CMI 700配置包括：
CMI 700主機及證書
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊（…
CMI 700專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計。
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CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準確和精確的測量。CMI 700臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。
同時CMI 760具有先進的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
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CMI 700配置包括：
CMI 700主機及證書
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊…
CMI 700專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計。
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CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準確和精確的測量。CMI 700臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。
同時CMI 760具有先進的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
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CMI 700配置包括：
CMI 700主機及證書
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊（…
深 圳市安達儀器儀表有限公司——牛津儀器中國區(qū)域一級代理商
CMI200涂層測厚儀
CMI233 兩用型涂層測厚儀，可測量：磁性底材上的非磁性涂層厚度，如鋼鐵上的非磁
性涂鍍層，油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等；非磁性底材上的非磁性涂層厚度，如銅、鋁、奧
氏體不銹鋼上的所有絕緣層，陽極氧化膜、油漆、涂料等。
主要用于：涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)的表面涂層。
探針類型 探針形狀 探針型號
最小凸面
半徑mm
最小凹面
半徑mm
測量高度
mm
最小測
量區(qū)域
mm
最小識
別直角
mm
底材最
小厚度
mm
筆直 ECP
11.2
(0.5")
11.2
(0.44")
102
(4.0")
電渦流
直角 REP-3
9.2
(0.36") 14.6…
CMI 200系列CMI 243膜厚儀
英國牛津Oxford CMI 243是一款專門為測量磁性金屬基材上的鋅、鎳、鉻、鎘等鍍層厚度而設(shè)計的便攜式膜厚儀。獨特的渦電流測試方法使測量更精確。高端配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI 243在設(shè)計上更加合理、可靠、實用。
●ECP-M探頭：鋅、鎳、鉻、鎘均可以測量
●準確度：±1%
●測量范圍：0.08-1.50mils(2-38μm)
●分辨率：0.01mils (0.1μm)
●適用標準：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3
●單位：英制和公制單位自動轉(zhuǎn)換
●統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標準差，…
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